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「TEST2017[第14回総合試験機器展]」展示会 出展のご案内

エスペック株式会社(ESPEC CORP.)

《 TEST2017 [第14回総合試験機器展]》

展示の見どころ
9月13日から15日の3日間、東京ビッグサイトで開催される
TEST 2017(第14回総合試験機器展)に出展いたします。

<自動車/半導体業界のお客さま向け>
 自動車/半導体業界でニーズが高い急速温度変化試験
 に使える温度変化率18℃/分のハイパワー恒温(恒湿)器 
 急速温度変化タイプを展示いたします。

<全業種のお客さま向け>
 ・高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER)の展示(Preview)
 ・主要なメーカーの万能試験機と組み合わせ可能な万能試験機用恒温恒湿槽の展示
 ・作業ミス予防/効率化につながるシステムの紹介
 ・受託試験のご相談/ブース内セミナー

以上のテーマで出展いたします。

会場でお待ちしております。

自動車・半導体業界のお客さま向け
ハイパワー恒温(恒湿)器ARシリーズ 急速温度変化タイプ

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最大18℃/分の急速温度変化性能速度
豊富なラインナップ
エスペック3
幅広い温湿度制御範囲
温湿度運転時全域フロストフリー
全業種のお客さま向け
高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER)
用途:電子部品の耐湿評価(例IEC60068-2-66)
空気を残留させ、より実環境に近い状態での加速寿命試験も可能です(オプション:Air-HAST機能)。
材料試験のお客さま向け
万能試験機用恒温恒湿槽
主要なメーカーの万能試験機との組み合わせが可能
扉開閉後のスピーディーな温度復帰(5分復帰)
温湿度制御タイプもご用意

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エスペックオンラインシリーズ
エスペックオンラインシリーズが試験環境のあらゆる課題を解決
・『環境試験器のIoT』
装置をネットワークへ接続することで、PCのWebブラウザーよりさまざまな機能をご利用いただけます。

集中監視、スケジュール予約、遠隔運転、異常通報、試験レポート自動作成、稼働率、試験データ保存、オンラインサポート(電話サポート)など

※ご要望にあわせてカスタム対応も実施しております。当日会場にて、デモンストレーションを実施しています。
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【エスペックオンラインシリーズ カタログダウンロード】

バーコード自動運転システム
計装操作フリー、試験追跡(トレーサビリティ)データを自動保存
「試料の試験条件を間違えない」簡単なようですが、試料の種類も多く、装置の試験条件の設定は、慣れない担当者には大変なことです。
また、間違えた場合、間違えたことを確認できないことも多いようです。

これらの問題を解決する方法として、「バーコード自動運転システム」をご用意しました。

・試料を認識することで試験条件を自動的に選定する
・試料ごとの試験結果を残す

当日会場にて、デモンストレーションを実施しています。
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受託試験のご相談/ブース内セミナー
[事前登録不要]
■ 受託試験のご相談
■ 下記テーマでブース内セミナーを開催・セミナーの内容
■ (講演1)輸送環境試験の基礎と関連試験装置のご紹介(講演1用写真)輸送環境試験の基礎-1近年、身近で重要な課題として注目されているエレクトロニクス製品の「輸送環境の品質向上」に焦点を当てた講演内容をご用意いたしました。
本セミナーでは、輸送環境での故障事例とその評価方法と評価事例、併せて、輸送環境試験の計画と関連試験装置についてもご紹介いたします。
現場で役立つ内容が短時間で理解できるようになっています。
参加は事前登録不要・無料ですので、お気軽にお誘い合わせのうえご参加ください。

関連製品:
 恒温(恒湿)室ビルドインチャンバー Eシリーズ

 結露サイクル試験装置

■(講演2)加速試験の動向と関連試験装置のご紹介

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加速試験は、技術者の中でも関心が最も高い技術の一つです。
その理由は、現在の製品開発において、限られた開発期間、サンプル数、コストで将来起こりえる故障を予測するためには、その活用が不可欠な状況だからです。
本セミナーでは、加速試験の動向と評価事例とその関連試験装置についてご紹介いたします。
現場で役立つ内容が短時間で理解できるようになっています。
参加は事前登録不要・無料ですので、お気軽にお誘い合わせのうえご参加ください。

関連製品:
 ハイパワー恒温(恒湿)器 ARシリーズ

 高度加速寿命試験装置(HAST CHAMBER)

■(講演3)未然防止技術:HALTのご紹介※
HALT紹介_TEST展 Biz掲載用-1

近年、製品の高信頼性、開発期間短縮に向けて、自動車やエレクトロニクス、航空宇宙、医療、電気通信などのさまざまな業界でHALTが活用されています。国際的なIEC規格ではHALTを質的加速試験に分類しており、多くの故障モードを検出することを目的としています。このようにHALTの目的は潜在的な弱点を多くの故障モードから検出し、製品の品質マージンを把握することです。
HALTにより故障分析、改善を加えていくことで製品の品質向上と開発の時間短縮が図れるため、開発の生産性向上に貢献することが可能です。
本セミナーではHALT概要と試験事例を合わせてご紹介します。

HALT紹介_TEST展 Biz掲載用-2

※関連情報:HALT試験

展示会詳細
展示会名 TEST2017 [第14回総合試験機器展]
会 期 2017年9月13日(水)〜15日(金)
会 場 東京ビッグサイト 東6ホール
展示会カテゴリー 計測・分析・検査・試験機器
住 所 〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1
主催者 日本試験機工業会
URL http://www.cnt-inc.co.jp/test/
備 考 出展小間番号 T-23
出展社詳細

URLhttps://www.espec.co.jp/

出展社 エスペック株式会社(ESPEC CORP.)
住所 〒530-8550 大阪府大阪市北区天神橋3-5-6