『最先端で革新的な』・『性能とコストの両方に優れたテスト・ソリューション』

株式会社アドバンテスト

《 SEMICON Japan 2017 》

開発現場に自動化を提案するアドバンテスト

アドバンテストは、「電子計測器」の分野に特化したベンチャー企業からスタートし、今は半導体試験を主力事業とする会社です。その実績は既に世界から評価を受けており、市場シェアは世界トップクラス、売上高に占める海外売上比率は約9割に達します。

展示の見どころ

「Measure the Connected World」をスローガンに、最先端で革新的な、性能とコストの両方に優れたテスト・ソリューションを展示しています。

Emerging Test Solutions
左:CloudTesting ServiceTM  右:計測システム「EVA100」

計測システム『 EVA100 』
■ 直感的な操作環境と優れた計測機能のオールインワンシステム

「EVA100」は、デバイスや制御ボードの評価作業に必要な計測機能(電源、VIソース、パターン・ジェネレータ、波形発生器、キャプチャ機能など)を搭載した複合型計測器です。複数の計測器を組み合わせて作り上げていた測定環境をこの1台で簡単に実現できます。プログラミング言語不要の操作環境で、直感的な操作が可能。小ピンアナログIC 、ミクスドシグナルIC 、デジタルIC など多くの電子デバイス、制御ボードの特性評価、機能評価、量産評価から量産の現場幅広くご利用いただけます。

製品の特長
■ 小さい
コンパクトなボディサイズを実現。

■ 高精度、高い再現性
高精度のアナログ電圧・電流源、パターン・ジェネレータ、波形キャプチャ機能をもち、さらに、高いタイミング精度で各種機能を同期制御できるイベント・マスタ・シーケンサにより、高い再現性を実現。

■ 直感的
プログラミング言語を不要とした環境は、直感的な操作で計測、評価作業を実現することが可能。計測、測定結果のレポート生成機能により、ドキュメント作成などの作業効率が飛躍的に向上!

■ 拡張性
連結可能なテスティング・ユニット、および、ソフトウエア環境は、設計評価から量産・選別工程などあらゆるシーンをサポート。GP-IB等のI/Fにより外部計測器と接続することで、お客様の環境に応じた評価環境の構築が可能。

「EVA100」は、ラップトップ/デスクトップPCと接続して使用します。システムへの電源供給は、ACDC Boxを使用することで商用電源を含む100~240Vに対応。作業エリアを選ばず使用できます。測定対象デバイスは、本体上部のPB(Performance Board)からケーブル等で接続。さらに、外部計測器を接続することで、測定ニーズに沿った最適なシステム構築が可能です。

指定画像
              左:「EVA100」の高い測定安定性    右:システム構成イメージ
主な機能
エンジニアリング向けアナログソリューション
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機能評価

シーケンス・エディタにより、複数の測定機能の同期制御をグラフィカルに実現。

特性評価

デバイスの出力信号の過渡応答波形の観測、測定が可能な高速デジタイザ・モジュール。

FFT解析ツール

ノイズ成分の解析や高精度な歪測定など、効率のよい作業環境を提供。

エンジニアリング向けデジタルソリューション

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シーケンス・エディタ

直感的なGUIで非常に分かりやすく、特別なトレーニングなしで使用可能。

デジタル・パターン・エディタ

長大なデジタル・パターン・データから、比較パターンとそのフェイル情報が確認可能

フロー・エディタ

作成したテスト・シーケンスを一括実行。テスト結果による分岐機能やリザルト・コードにより、複雑なフローにも対応。

ロジック・アナライザ・ツール

デバイスへの入出力波形を波形イメージで表示。パターン・エディタでは確認できない波形の変化のタイミングやレベルを視覚化。

量産モデル

エンジニアリング向けソリューションと同じソフトウエア、測定モジュールを使用。開発期間の短縮に貢献します。システム構成はテスティング・ユニット単位で変更可能。少量多品種の生産ラインに最適です。

共通のユニット
共通のユニット
CloudTestingTHService
ICテスター、制御・計測器も、「買う」から「必要な時だけ使う」時代へ。

CloudTestingTHServiceは、半導体の測定・解析プログラムを、必要な分だけインターネットからユーザのパソコンにダウンロードし、月額ライセンスで利用できます。半導体設計評価や、大学などでの専門教育や研究のニーズに応えた、新たなビジネスモデルによるサービスです。
* 子会社Cloud Testing Service株式会社より提供いたします。

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Cloud Testing Service
特長
■ 測定、評価、制御を、自在に組み合わせ可能なTesting IPで実現

■ 豊富な経験に基づいて開発された多様な測定ライブラリや解析ツール

■ 測定器は無償レンタル

■ 初期投資はケーブルと治具の準備費用のみ。無料トライアル&月額課金制

■ テストに精通したエンジニアのサポート

■ 海外でもご使用になれます。

主な測定機能
■ DC特性検証

■ ロジック機能検証

■ AC特性検証

■ I2CバスI/F

■ アナログリニアリティ

■ IVカーブ特性検証

主な解析機能
■ EDAリング(VCD、WGL、STIL)

■ Logic Analyzer

■ Pattern Viewer

■ Oscilloscope

■ Shmoo Plot

■ Fall Bitmap

ソリューション例

SCAN故障解析ソリューション

■ ATPG生成のSCANベクターを実行

■ 試験ログをATPG用ファイルに変更可能

メモリテスティングソリューション

■ アドバンテストのメモリテスタの技術を小型システムに集約

■ 試験速度266MHz/533Mbps(DDRモード)に対応

センサー測定ソリューション

■ シリアルバス(I2C)I/Fによる簡単制御

■ 出力に同期したリアルタイム測定

その他

SerDes測定ソリューション、IVカーブトレースソリューション、EMI解析ソリューションなど多種多様なテストに対応しています。

展示会詳細
展示会名 SEMICON Japan 2017
会 期 2017年12月13日(水)–15日(金)
会 場 東京ビッグサイト
展示会カテゴリー 電気・電子・磁気・半導体
住 所 〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1
主催者  SEMI
URL http://www.semiconjapan.org/jp/
備 考
出展社詳細

URLhttps://www.advantest.com/ja/products/electronic-measuring-instruments/eva100

出展社 株式会社アドバンテスト
住所 〒100-0005 東京都千代田区丸の内1丁目6番2号 新丸の内センタービルディング

URLhttp://www.cts-advantest.com/

出展社 Cloud Testing Service株式会社
住所 〒100-0005 東京都千代田区丸の内1丁目6番2号 新丸の内センタービルディング